當(dāng)速度越來越高時,計(jì)算機(jī)和其他電器的頻率也不斷升高。許多係統(tǒng)現(xiàn)在的工作頻率範(fàn)圍都在1-10GHz之間,而新的應(yīng)用頻率則更高達(dá)20GHz。
理解這些設(shè)備所用材料如何在這樣的頻率下工作是設(shè)計(jì)師麵臨的一個挑戰(zhàn)。對於塑料電子產(chǎn)品而言,了解聚合物的化學(xué)性能、添加劑、部件的厚度以及熔體的流動方式等的微妙的影響是選擇理想的樹脂、設(shè)計(jì)和製造出期望部件的關(guān)鍵。
塑料一般是絕緣的,但是在高頻狀態(tài)下,它們也可以傳播一定電能。材料的絕緣性能一般用介電常數(shù)Dk以及耗散因子DF來表示。目前,在頻率1Ghz以上反應(yīng)塑料介電常數(shù)表現(xiàn)的數(shù)據(jù)相對來說比較少。
為了說明一組塑料的介電常數(shù)Dk和耗散因子DF的不同,本文概括了*近對通常用於電子器件中的液晶聚合物的高頻測試結(jié)果。主要的介電性能
反應(yīng)塑料介電性能的*重要的兩個參數(shù)是介電常數(shù)和耗散因子。Dk反映的是絕緣體如何積蓄電能,從而使電子元件相互絕緣,並與地麵絕緣。Dk是兩種材料電容值的比:一種作為介電物質(zhì)的電容與空氣或真空作為介電物質(zhì)的電容之比,這個值在設(shè)計(jì)開關(guān)、電路、微波裝置、RF傳送線路、天線和導(dǎo)波裝置時具有重要的參考價值。
材料的導(dǎo)電性能越好,其Dk越大。真空或乾燥的空氣是非常低的介電物質(zhì)。從定義來看,Dk等於或接近1.0。水的介電常數(shù)Dk非常高,許多金屬氧化物和陶瓷、雲(yún)母、玻璃和塑料的Dk值均較低或很低。
物質(zhì)具有好的介電性能往往意味著耗散因子DF低。也即,它們不會讓所獲得的電荷很容易地分散出去,不會像熱能那樣容易喪失,因?yàn)榻殡妶鲈诟哳l狀態(tài)下很容易反轉(zhuǎn)。DF代表了介電材料的損耗。它是損耗係數(shù)(衡量介電物質(zhì)所有丟失的電荷的指標(biāo))與材料介電常數(shù)之比。
Dk是將電子結(jié)構(gòu)製成具有所需的阻抗的關(guān)鍵設(shè)計(jì)變量。電子元件中Dk小到0.1的細(xì)微的變化就可以改變儀器的性能。隨著係統(tǒng)變得越來越複雜,小的Dk值就越發(fā)顯得重要。
因此,認(rèn)識在1至20Ghz之間塑料介電常數(shù)的變化就非常迫切,需要掌握的知識還包括影響Dk的各種材料、設(shè)計(jì)和終端使用變量。
LCPs的檢測
塑料中的Dk與聚合物的極性有非常密切的關(guān)係。如,PTFE和聚丙烯的Dk很低,尼龍則比較高。液晶聚合物(LCPS)的Dk在塑料中屬於中高層次的水平,而在耐高溫?zé)崴苄圆牧现袆t是*低的。
LCPs是芳香型聚酯材料家族中的一員,常用於薄壁成型鑄塑件,如具有很高植針密度的複雜的開關(guān)接頭中。因?yàn)檫@種材料具有**的流動性,在狹窄的壁部,強(qiáng)度很高。LCPs同樣也用在高頻、多層印刷電路板、芯片模塊和芯片載體中。
未填充的LCPs典型的Dk介於3和4之間,高頻狀態(tài)下,損耗係數(shù)也很低。往往比傳統(tǒng)的高速數(shù)碼設(shè)備的介電物質(zhì)要優(yōu)良,在銅覆薄膜中介電性能非常優(yōu)異。
檢測如何進(jìn)行
*近一份研究各種變量的報告顯示了頻率在1Ghz以上是如何影響LCPs的介電性能的。報告在5種不同的頻率下(1Ghz,2.5Ghz,5Ghz,10Ghz和20Ghz)測試了Ticona公司不同級彆的VectraLCP和市場上其它LCP的Dk和DF。Vectar級彆的樹脂的單體結(jié)構(gòu)相似,但與市場上其他的LCP的組成有很大差異。測試不僅研究了不同樹脂的影響,還考察了增強(qiáng)纖維、導(dǎo)電添加劑、壁厚和分子排列方向等的影響。測試中冇有涵蓋濕度,因?yàn)長CP幾乎不吸水。但對那些對吸水性非常大的聚合物,這個參數(shù)是有用的。測試中所用的樹脂除了一種是天然的白色外,其餘都是黑色的。每種樹脂都被製成三種不同的徽章尺寸:尺寸為60x60x4mm的樹脂采用的門為50x2mm;60x60x2mm的采用60x1.5mm的門;80x80x1mm的采用80x0.8mm的門。
Dk測試是由一個獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室按ASTNMD2520-01測試法B“諧振腔乾擾技術(shù)”、“固體電絕緣材料在微波頻率和1650攝氏度下,複雜介電常數(shù)標(biāo)準(zhǔn)測試法”完成的。測試檢測了帶有和不帶有樣品時,諧振腔的諧振頻率和材料的品質(zhì)參數(shù)。所有的樣品都預(yù)先放置在23攝氏度、相對濕度為50%的環(huán)境下。根據(jù)這些測定和樣品的尺寸,計(jì)算出Dk 和DF的大小。測試的**度為:Dk的誤差為:±1%,DF的誤差為±5%。所有的試驗(yàn)都做三次。
ASTM標(biāo)準(zhǔn)中的B測試法限製了每一個頻率中被測材料的量,以保持?jǐn)?shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。在不同頻率時,所用樣本的厚度也不同。在1和2.5GHz的頻率時,測試樣取自4mm厚的板材,5-10Ghz,則取自2 mm的板材,20GHz時,板材厚度為1mm。這樣做,可以使測試時的電場方向與樣本熔體流動的方向平行。
成分的影響三種級彆的VectraLCP以及市場上其他LCP的介電常數(shù)顯示了聚合物成份對其的影響。采用含有30%玻纖填充物的樹脂是因?yàn)樗鼈兪紫仁请娮与娖鳟a(chǎn)品的首要選擇。VectraL139D-2和E130iD-2 LCP 的介電性能相似。Vectra A130D2LCP的介電常數(shù)和DF*低。市場上的其他單體組成不同的LCP(LCP“Z”)的Dk和DF則非常高。
表中列出了3種未填充的Vetra LCP的Dk和DF,證明介電常數(shù)的變化隨聚合物的構(gòu)成而變化(玻纖填充樹脂一樣)。
介電性能與分子取向:(1GHz時,Vectra E130-2)1GHz時,未填充級彆的A950, L950, 和E950i的Dk介於3.45-3.5之間,20Ghz時升高到3.7-3.85。相關(guān)的玻纖填充樹脂的Dk在1GHz時為4.15-4.25,20GHz時,為4.6-4.7。這是因?yàn)椴@w的Dk比LCP高。
不同級彆樹脂具有不同的Dk使產(chǎn)品設(shè)計(jì)師在選材時有更多的自由,以滿足電子結(jié)構(gòu)的需求。玻纖填充或普通VectraA樹脂的Dk*低。Vectra L和Ei樹脂的Dk相對較低,適合耐高溫場合。目前還無法解釋為什麼普通或玻纖填充樹脂的Dk在2.5GHz時會降低,應(yīng)該屬於材料本身的特性,因?yàn)檫@種情況不發(fā)生在PTFE為基材的樣本中。
Vectra LCP 樹脂A 的耗散因素*低。在1 GHz時,未填充VectraA樹脂的DF不到其他兩種試樣的一半,(0.0019:0.0042左右)。在20GHz時,各種未填充DF級彆的樹脂的DF約等於0.0022。1GHz時,玻纖填充的VectraLCP的DF在0.004-0.006之間,20GHz時,則為0.006-0.007。市場上的其他LCP(“Z”樹脂)的值要高許多。
導(dǎo)電碳黑常常被加入LCP中以提高靜電的耗散性能。對Vectra LCP的測試結(jié)果顯示,Dk從1GHz 時的9.5升至20GHz的將近15。這些數(shù)據(jù)比玻纖增強(qiáng)樹脂樣本的高2-3倍。 碳填充樹脂的DF值比玻纖填充的高浸10倍。
添加Dk低的材料同樣可以降低VectraLCP的介電常數(shù)。用PTFE替代玻纖時,Dk下降,因?yàn)镻TFE的Dk比玻纖和LCP都低。如含有50%PTFE的LCP的Dk比含有30%玻纖的LCP的低約15%。
厚度和流動性的影響
研究明,部件的厚度影響Dk和DF值。當(dāng)厚度在固定頻率2.5GHz的情況下從4mm變化至2mm時,Dk幾乎保持穩(wěn)定。但是從2mm至1mm時,上升約0.2個單位。同樣,在厚度從4mm變至2mm時,DF也幾乎穩(wěn)定在0.0049,厚度降至1mm時,DF也相應(yīng)降到0.00435。這可能是因?yàn)楸韺雍托緦雨P(guān)係發(fā)生了變化的緣故。因?yàn)?mm厚的樣本中朝向流動方向的聚合物鏈的比例更高。
由於LCP的皮芯關(guān)係,LCP元件的厚度影響著其性能。標(biāo)準(zhǔn)ASTM測試過程要求每一個頻率檢測樣本的尺寸要不同。1mm樣本在2.5-5GHz的Dk比1、10和20GHz的要低0.1個單位。DF的值相差不大,在1GHz時,在0.0044和0.006之間變化,2.5zGHz時,在0.0044-0.005之間變化。20GHz時,DF為0.65。 |